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芯片的破坏物理性分析-线上报价服务

更新时间1:2025-02-15 14:45:32 信息编号:6arjpr74ae20f 举报维权
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供应商 广电计量检测集团股份有限公司 店铺
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关键词 芯片的破坏物理性分析,安徽破坏物理性分析,可靠的破坏物理性分析,当地破坏物理性分析
所在地 广东广州天河区黄埔大道西平云路163号
曾先生
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4年

产品详细介绍

电子元器件制造⼯艺质量⼀致性是电子元器件满足其用途和相关规范的前提。⼤量假冒翻新元器件充斥着元器件供应市场,如何确定货架元器件真伪是困扰元器件使用方的⼀大难题。广电计量DPA分析测试能解决这一系列问题,其中检测项目包括:
●非破坏性项目:外部目检、X 射线检查、PIND、密封、引出端强度、声学显微镜检查;
●破坏性项目:激光开封、化学开封、内部⽓体成分分析、内部目检、SEM检查、键合强度、剪切强度、粘接强度、IC取芯片、 芯片去层、衬底检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、ESD测试

根据DPA结果剔除不合格批次,保留合格批次。破坏性物理分析(DPA)是高可靠工程使用的元器件质量重要方法之一,主要用于元器件批质量的评价,也适用于元器件生产过程中的质量监控。 DPA可发现在常规筛选检验中不一定能暴露的问题,这些问题主要是与产品设计、结构、装配等工艺相关的缺陷。由于破坏性物理分析技术有这样的技术特点,因此,对J用电子元器件开展DPA,可以把问题暴露于事前,有效防止型号工程由于电子元器件的潜在质量问题而导致整体失效。


何时需开展DPA?
1、进货前检证: 供应商提供DPA合格报告
2、来料筛选验证: 装机前进行DPA验证,进行内部缺陷检查、可靠性评估及功能测试等质量复验
3、超期复检:对贮存期超过有效贮存期的元器件,在装机前应进行DPA复检
广电计量破坏物理性分析(DPA测试)为企业提供确认元器件的设计及制造过程中的偏差和工艺缺陷;提出针对元器件缺陷的处理意见、建议及有效的改进方案;预防因元器件存在的质量问题而导致装机时产生的整体失效。

广电计量集成电路失效分析实验室,配备了完善的DPA分析测试设备(如3D解析显微镜、X射线透射仪、超声扫描显微镜、场发射扫描电子显微镜、TEM透射电子显微镜、水汽分析仪、各类检漏仪等),具备非破坏性和破坏性测试的DPA分析能力。

破坏性物理分析DPA通常被航空航天工业用于将电子元件认证为“S”类。越来越多的商业应用正在使用破坏性物理分析DPA筛选来显着提高其产品在现场的可靠性。可靠性更高的电子元件通常需要长时间运行,几乎没有更换的机会。轨道卫星就是这种情况的好例子。满足“空间使用”要求的零件也用于难以更换和/或故障产生风险的应用。
广电计量斯对航空航天,商业,军事和应用中使用的材料进行了40多年的破坏性物理分析(DPA)。我们的设施,并通过了DLA认证,可满足各种MIL-STD测试要求。

广电计量视公信力为企业生命,技术能力获得了众多国内外机构和组织的认可和授权,通过了中国合格评定国家认可(CNAS)、中国计量认证(CMA)、农产品质量安全检测机构(CATL)认可,是国家食品复检机构、全国土壤污染详查推荐检测实验室、中国CB实验室。目前已获得CNAS认可45053项参数,CMA认可65113项参数,CATL认可覆盖7922项参数;在支撑各区域产业发展过程中,广电计量还获得、行业及社会组织颁发的资质荣誉200余项。基于遍布全国的服务网络和公信力,广电计量帮助客户稳健开拓本地市场乃至全球市场。

所属分类:检测服务/性能检测

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