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锡须观察EDS检测第三方检测机构

更新时间:2024-10-06 01:16:46 [举报]

SEM+EDS分析:
放大倍数: 5~30万倍
解 析 度 : 3 nm
分析元素范围: Be(4)~U(92)
大样品尺寸: 200 mm
分析对象: 固体样品,金属、塑料和电子零件.
功能与目的: 微区成分分析
失效模式/机制分析
断口形貌观察等

优尔鸿信昆山检测中心 材料测试实验室主要功能:
1. SEM+EDS分析
2. 3D X-RAY检测&断层扫描分析
3. 超声波扫描(C-SAM)分析
4. 切片(Cross Section)分析
5. 红墨水(Dye&Pry)分析
6. 焊点推拉力(Bonding Test)
7. 芯片开封测试(IC-Decapping)
8. 沾锡能力测试
9. 离子浓度测试
10. 表面绝缘阻抗(SIR)测试

场扫描电镜对样品要求,如下:
1.样品要尽可能干燥,若样品中含有水份,水分挥发会造成仓内真空度急剧下降,导致图像漂移,有白色条纹,甚至会影响灯丝寿命;
2.热稳定性好,热稳定性差的样品往往在电子束的轰击下分解,释放气体和其他物质,污染电镜;
3.导电性好,导电性差的样品会发生荷电效应,造成图像畸变,亮点亮线,像散等;
4.不含强磁性,强磁性的样品观察一般会出现严重的像散,无法消去,磁性粉末如果粘的不牢固还可能会吸附到探头上,损害电镜

标签:SEM分析扫描电镜分析
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