博微-功率半导体样品测试现场
内容简介 半导体测试设备可针对,半导体静态/动态测试,晶圆测试,封装测试
可针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可进行高精度静态参数测试（包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数）测试精度可达16位ADC。包括半导体器件静态/动态测试，可靠性测试，雪崩浪涌测试，车规级功率器件与模块测试，高校半导体实验室，半导体教育教学实验台，测试仪器仪表等。
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