广东省世通仪器检测服务有限公司2005年由恒宇仪器出资成立于广东东莞市。恒宇仪器创立于2000年，是研发制造品质检测仪器的国家高新技术企业，依托深耕品质检测仪器多年的制造研发优势，充分利用公司在仪器检测人员、技术、服务等方面的资源优势，出资2500万成立世通仪器检测服务有限公司，为顾客提供更全面更的服务。
在开始仪器校准前，将测温标准器的传感器插入测试孔，浸没于油槽中，与测定仪温度传感器并排放置，下端对齐，使测量同一位置的温度，固定于样品支架。如有多个样品支架，则需要在每个支架上固定一个测温标准器。开启测定仪并设置好升温速率后即可开始温度指示误差的仪器校准。现有仪器校准方法描述:启动温度测定仪，观察温度测定仪的温度指示值和标准器的温度读数值，从 40℃开始每隔 10℃分别记录温度测定仪与标准器的温度读数值，直至温度测定仪达到设定的上限温度。误差按照公式(1):
Δt = t i － (t s + t 0) (1)
式中:Δt—温度测定仪温度指示误差，℃;
t i —温度测定仪温度指示值，℃;
t s —标准器测得值，℃;
t 0 —标准器修正值，℃。
因为不同的塑料材料具有不同的热变形和维卡软化点温度，故校准测定仪显示温度是否准确，关键是校准测定仪在使用温度点的准确性，为此本文认为校准应在该仪器平常测定使用的温度点附近进行。故按现有方法进行测量在实际操作中存在 2 个问题:(1)从 40℃每间隔 10℃温度点进行测量，无法准确校准温度测定仪日常测量时使用的温度点是否准确并给出相应的温度修正值;(2)该方法也未明确温度校准点是以测定仪指示温度到达进行测量还是以标准器测得温度到达进行测量。
在东莞市世通仪器检测服务中心的校准研究中，采用铂电阻温度传感器加数据采集器作为测温标准器，进行温度指示误差的校准，数据采集器的扫描间隔设置为 1s，对 7 个通道的温度进行测量。在该研究中已明确指出温度校准点以测定仪指示温度到达为准，记录标准器的测得温度值，温度指示误差按照公式(2)计算:
Δt = t 1 － t 2 (2)
式中:Δt—温度测定仪温度指示误差，℃;
t 1 —温度测定仪温度指示值，℃;
t 2 —标准器测得值，℃。
如该研究所表述，测定仪的温度校准过程属于动态校准，因此各个测温通道受各通道温度传感器及油槽中油温分布影响，达到校准点温度的时间不统一，同时受数据采集器扫描间隔为 1s 的影响，导致该校准方法中，部分通道记录的标准器测得温度值并非温度测定仪温度指示值刚好达到校准点的值，由此可能会增加校准时校准结果的误差。
3 温度指示误差校准方法改进
综合上述研究内容提及的校准方法及存在的问题，本文对测定仪的校准方法进行改进，在校准测定仪前，先确定仪器常用测量的温度点 t，将 t ±5℃温度范围划分为11 份，间隔为1℃，记为 t －5℃、t －4℃…t +4℃、t +5℃，分别作为测温标准器的温度记录点，并同时记录与之对应的测定仪指示温度。因该方法温度测量范围覆盖了测定仪日常测量的温度点，因此通过该方法即可确定出被测试件的准确热变形温度和维卡软化点温度。但此测量过程为一动态过程，被测试件在负载下，变形或被针如 1mm 发生在一瞬间，并没有经历一个相对恒温的过程，所以对测温传感器达到温度记录点时，快速记录下对应的测定仪指示温度提出了高的要求，为此，本研究认为在使用传统的数字温度计或铂电阻传感器的同时，还需要对测量标准的读数和数据记录装置进行改进。
4 配套校准装置设计
传感器的选择:因为测定仪使用所依据的技术文件对升温速录有要求，《GB/T1633 热塑性塑料维卡软化温度(VST)的测定》:A 速度:(5 ± 0. 5)℃ /6min、B 速度:(12 ± 1. 0)℃ /6min;《GB/T8802 热塑性塑料管材、管件维卡软化温度的测定》:(5 ± 0. 5)℃ /6min;《GB/T1634 塑料弯曲负载热变形温度(简称热变形温度)试验方法》:(120 ±10)℃ /1h。
因此在选择数字温度计或传感器时，需要选择温度变化响应的要求需要优于130℃ /h 的测温传感器。
读数和数据记录系统:为减小人工记录温度数据，人的反应时间带来的误差，选择在标准器的测温装置中加装图像采集装置，通过测温标准器中温度信号控制图像采集，由图像记录对应的测定仪指示温度，减小由操作人员因素产生的误差，即可在整个校准装置中设定终点温度，用于触发拍照，通过图片定格对应的测定仪指示温度。同时需要注意的是，对多通道设备，应对每个通道放置的测温标准采用单的温度信号采集(可同时采集多传感器的温度信号)，避免由于巡检扫描时间过长带来的误差。读数和数据记录软件改进:因本方法和配套的装置对测定仪进行温度校准时，采用的以测温标准温度触发读数，记录测定仪指示温度的方案，此时，需要考虑测温标准器无法采集到设定触发拍照的温度信号，此时触发拍照的温度信号应修正为温度持续上升转变为温度下降的温度，即测温曲线的顶点温度。
5 结束语
综上所述，本文认为通过自动化的数据采集方式，可以有效的减小热变形、维卡软化点测定仪在动态的校准过程中的温度误差，通过预估被测温度所在区间，分段制定测温范围能够更准确的对测定仪的使用温度给出适用温度误差。
实验室地址
东莞总部：广东省东莞市道滘镇厚德上梁洲工业区四横路7号
江苏世通：江苏省苏州市昆山开发区昆嘉路379号
重庆世通：重庆市北碚区万宝大道184号3楼
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十、 百分表
（一）百分表的结构、工作原理和用途
１．百分表主要由表体、表圈、刻度盘、转数指针、指针、装夹套、测杆、测头几部分组成。其工作原理是将测杆的直线位移，经过齿条－齿轮传动，转变为指针的角位移。
２．百分表的测量范围一般为0－３、0－5 和0－10mm。主要用于直接或比较测量工件的长度尺寸、几何形状偏差，也可用于检验机床几何精度或调整加工工件装夹位置偏差。
（二）百分表的使用注意事项：
１．百分表应固定在可靠的表架上，根据测量需要，可选择带平台的表架或表架。
２．百分表应牢固地装夹在表架夹具上，如与装套筒紧固时，夹紧力不宜过大，以免使装夹套筒变形，卡住测杆，应检查测杆移动是否灵活。夹紧后，不可再转动百分表。
３．百分表测杆被测工件表面垂直，否则将产生较大的测量误差。
４．测量圆柱形工件时，测杆轴线应与圆柱形工件直径方向一致。
５．测量前须检查百分表是否夹牢又不影响其灵敏度，为此可检查其重复性，即多次提拉百分表测杆略工件高度，放下测杆，使之与工件接触，在重复性较好的情况下，才可以进行测量。
６．在测量时，应轻轻提起测杆，把工件移至测头下面，缓慢下降测头，使之与工件接触，不准把工件强迫推入至测头，也不准急骤下降测头，以免产生瞬时冲击测力，给测量带来误差。对工件进行调整时，也应按上述操作方法。在测头与工件表面接触时，测杆应有0.3－1mm 的压缩量，以保持一定的起始测量力。
７．根据工件的不同形状，可自制各种形状测头进行测量：如可用平测头测量球形的工件；可用球面测头测量圆柱形或平表面的工件；可有尖测头或曲率半径很小的球面测头测量凹面或形状复杂的表面。测量薄形工件厚度时须在正、反方向上各测量一次，取小值，以免由于弯曲，不能正确反映其尺寸。
８．测量杆上不要加油，免得油污进入表内，影响表的传动机和测杆移动的灵活。
十一、内径百分表
（一）内径百分表结构、工作原理和用途
１．内径百分表是一种借助于百分表为读数机构、配备杠杆传动系统或楔形传动系统的杆部组合而成。其一般由表、手柄、主体、定位护桥、活动测头、可换测头、紧固螺钉几部分组成。
２．内径百分表测量范围一般有６－10、10－18、18－35、35－50、50－100和100－160mm 等。其主要用于以比较法测量孔径或槽宽、孔或槽的几何形状误差，根据被测工件的公差选择相应精度标准环规或用量块及量块附件的组合体来调整内径百分表。
（二）内径百分表的使用注意事项：
１．内径百分表一套，百分表和测量杆不可分开使用。
２．在测量前根据被测工件的尺寸，选用相应尺寸的测头。在调整及测量工作中，内径百分表的测杆应与环规及被测孔径垂直，即在径向找大值，在轴向找其小值。在测量槽宽时，在径向及轴向找其小值。具有定心器的内径百分表，在测量内孔时，只要将仪器按孔的轴线方向来回摆动，其小值，即为孔的直径。
陕西世通仪器检测校准中心实验室面积达3000余平米，校准源，覆盖范围广。中心设有：力学、长度、衡器、电磁、热工、几何量、轻工、流量计，气体报警器等校准检测实验室。
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外径千分尺
（一）外径千分尺的结构和用途
１．千分尺的测量范围：测量上限不大于300mm 的千分尺，按25mm 分段，如0－25mm、25－50mm……275－300mm 等；测量上限大于300mm 至1000mm 的千分尺，按100mm 分段，如300－400mm、400－500mm……等。其主要由尺架、测砧、测微螺杆、螺纹轴套、固定套管、微分筒、调节螺母、弹簧套、垫片、测力装置、锁紧装置、隔热装置几部分组成。
２．千分尺可测量IT8－IT12 级工件的各种外形尺寸，如长度、外径、厚度等。
（二）外径千分尺的使用注意事项：
１．使用外径千分尺时，一般用手握住隔热装置。如果手直接握住尺架，就会使千分尺和工件温度不一致而增加测量误差。在一般情况下，应注意外径千分尺和被测工件具有相同的温度。
２．千分尺两测量面将与工件接触时，要使用测力装置，不要转动微分筒。
３．千分尺测量轴的中心线要与工件被测长度方向相一致，不要歪斜。
４．千分尺测量面与被测工件相接触时，要考虑工件表面几何形状。
５．在测量被加工的工件时，工件要在静态下测量，不要在工件转动或加工时测量，否则易使测量面磨损，测杆扭弯，甚至折断。
６．按被测尺寸调节外径千分尺时，要慢慢地转动微分筒或测力装置，不要握握住微分筒子挥动或摇转尺架，以致使精密测微螺杆变形。
７．测量时，应使测砧测量面与被测表面接触，然后摆动测微头端找到正确位置后，使测微螺杆测量面与被测表面接触，在千分尺上读取被测值。当千分尺离开被测表面读数时，应先用锁紧装置将测微螺杆锁紧再进行读数。
８．千分尺不能当卡规或卡钳使用，防止划坏千分尺的测量面。
