安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率，可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程，测量值更加合理
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。
电源
DUT 电源 0V 至 +20V
0V 至 -14V
高压 DUT 电源 10V 至 +100V
0V 至 -14V
电源通道数
可编程 0 – 5 V @ 20A
可编程 0 –14V @ 10A
可编程 0 – 20V @ 4A
可编程 0 – -14V @ 5A
可编程 10 –100V @ 10mA
常规
两路
无
一路
一路
无
高压
一路
一路
无
一路
一路
N6700 DUT 电源单元 4 x 可编程通道
0 至 50V @ 5A，每一通道
过压保护 有
过流保护 有
系统电源 AC 200V – 240V
10A
夹具
软件规范
操作系统 Windows XP Home Edition
支持语言 英语
简体汉语
繁体汉语
( 支持本地化 )
无矢量测试技术 VTEP v2.0 测试套件 ( 包括 VTEP, iVTEP 和 NPM)
覆盖扩展
Extest Toggle
探针位置图
引脚位置图
器件位置图
探针引脚定位器 带导向探针的引脚定位器
实施产出量显示 运行时的实 FPY ( 一次合格率 ) 显示
产出率增强工具 自动重测试
自动测试周期重复
调试界面 便于选择测试选项的电子表单格式
自动调试 自动调试模拟不加电测试和 VTEP v2.0
扩展能力 达 28 槽的单一模块设计
缺陷消息打印机 使用并行端口 (LPT1) 接口（不包括打印机）
发运和安装帮助 包括 (Keysight 授权代理商 )
电容器放电保护 有
支持的夹具类型 长线压床型
