分析失效模式和机理：通过对失效的电子设备进行必要的电、物理、化学的检测，并结合元器件失效前后的具体情况及有关技术文件进行分析，可以确定元器件的失效模式、失效机理和造成失效的原因。通过失效分析可以发现失效元器件的固有质量问题，也有可能发现元器件因不按规定条件使用而失效的使用质量问题。
进行低气压测试：将测试样品放置在低气压测试室或模拟器中，按照设定的条件进行测试。例如，可以逐渐降低测试环境的气压，并观察测试样品的性能变化情况。
分析测试结果：根据测试结果，对电子设备的可靠性进行评估。例如，可以观察电子设备在低气压环境下的电气性能、机械强度、气密性等方面的表现，以及是否存在失效模式和机理。
采取纠正措施：根据测试结果的分析，采取相应的纠正措施以提高电子设备的可靠性。例如，对于发现的问题，可以改进设计、优化工艺、加强质量控制等措施。
分析电气性能：低气压测试可以模拟电子产品在高海拔或太空等低气压环境下的电气性能表现。通过测试和分析，可以发现电气性能方面存在的问题和不足，从而针对性地进行优化和改进
根据测试结果，对电子产品的电气性能进行评估。例如，可以观察电气性能参数的变化情况，以及是否存在异常或失效的情况。
