校正设备，检测设备，校正器具，校正器具，校验设备，校准器具，标定设备，计量器具，校正设备，校准设备
技术规格 Ci60 Ci62 Ci64 Ci64UV
光源 钨丝灯 钨丝灯 钨丝灯 钨丝灯+uv LED
白色重复性 0.10ΔE CIEAB 0.05ΔE CIEAB 0.04ΔE CIEAB 0.04ΔE CIEAB
台间差 平均值 0.40ΔE*
CIEAB 平均值 0.20ΔE*
CIEAB 平均值 0.13ΔE*
CIEAB(8mm) 平均值 0.13ΔE*
CIEAB(8mm)
点亮/测量的孔径 14mm/8mm 6.5mm/4mm或
14mm/8mm 6.5mm/4mm或
14mm/8mm 6.5mm/4mm或
14mm/8mm
测量输出 SPIN/SPEX/
相关的光泽度 SPIN/SPEX/
相关的光泽度 SPIN/SPEX/
相关的光泽度 SPIN/SPEX/
相关的光泽度
嵌入式
NetProfiler支持 ✓ ✓ ✓
USE/蓝牙接口** ✓ ✓ ✓
绿CRA测试标准 ✓ ✓ ✓
光谱范围 400nm - 700nm 400nm - 700nm 400nm - 700nm 400nm - 700nm
波长间隔 10nm 10nm 10nm 10nm
光度测定范围 0%-200% 0%-200% 0%-200% 0%-200%
球形/散射 PTFE PTFE PTFE PTFE
重量 1.1Kg 1.1Kg 1.1Kg 1.1Kg
检测设备，校正器具，校正器具，校验设备，校准器具，标定设备，计量器具，校正设备，校准设备，校准仪器
仪器在经过一段时间的使用后，仪器的参数可能会发生变化，特别是一些稳定性较差的仪器，不同的时间段，相同的人员，方法，环境条件等，所测量得到的结果会大不相同，那么为了确认我们的仪器在一段时间（一般是一年，据实际情况而定）之后，还能否保持应有的测量能力，就需要进行校准。仪器校准完毕后，如果符合我们的使用要求，那么该仪器就可以为我们的检验结果的准确性提供基础的保障。
校正器具，校验设备，校准器具，标定设备，计量器具，校正设备，校准设备，校准仪器，计量仪器，检验设备，计量设备，检定设备，检验器具，外校仪器，校准量具，检验量具，外校设备
仪器校准公司测距模式有精测模式、跟踪模式、粗测模式三种。精测模式是常用的测距模式，测量时间约2.5S，小显示单位1mm；跟踪模式，常用于跟踪移动目标或放样时连续测距，小显示一般为1cm，每次测距时间约0.3S；粗测模式，测量时间约0.7S，小显示单位1cm或1mm。在距离测量或坐标测量时，可按测距模式（MODE）键选择不同的测距模式。应注意，有些型号的全站仪在距离测量时不能设定仪器高和棱镜高，显示的高差值是全站仪横轴中心与棱镜中心的高差。坐标测量设定测站点的三维坐标。设定后视点的坐标或设定后视方向的水平度盘读数为其方位角。当设定后视点的坐标时，全站仪会自动计算后视方向的方位角，并设定后视方向的水平度盘读数为其方位
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