高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的的一项测试箱。WDCJ-100
操作流程
一般来说,高低温冲击试验箱操作分为五部走:预处理、初始检测、试验、恢复、后检测。下面恒泰丰科和大家一起分享一下详细流程内容:
1.预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。
2.初始检测:将被测样品与标准要求对照,符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。
3.试验:
1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到点,保持一定的时间至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
2)高温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
3)低温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小,时间可能会略有误差。
4. 恢复:试验样品从试验箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定。
5.后检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。
采用采用的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。可立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。
用于测试零部件承受温度迅速变化之耐力,三箱式冷热冲击试验箱即适用于质量控制的实验室又可满足生产过程中筛选商用和产品。蓄热式冷热冲击箱不需要使用液态气体(LN2 或 LCO2)辅助降温,待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量选用,可大量节省耗材测试费用,操作快捷。
产品特点
1三箱式冷热冲击试验箱/冷热冲击试验机/高低温冲击试验箱/温度冲击试验箱
2对于冷热冲击测试来说,一些国际标准(MIL-STD,IEC,DIN等)要求在温度循环时有短暂的调节为常温的步骤,本试验箱是专为满足这些国际标准而设计的。
3试料槽完全静止,可由测试孔外加负载配线。
4蓄热方式可避免使用职业伤害。(注:液态气体所产气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,而产生工作倦怠,集中力降低)。
5冷热冲击箱采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器,操作简单、学习容易。
6温度控制精度高,全部采用PID自动演算 控制。
7可选择始动位置,高温或低温开始循环。
8具有预约起动功能。
9可设定循环次数及自动除霜。
10试验箱分为高温区、低温区、测试区三部份,各区箱体采用特的隔热结构,测试时可选择二槽(两箱法)或三槽(三箱法)冲击试验。
11可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜。运转中状态显示及曲线,异常及故障点显示说明及排除方法。
12有异常或故障显示及排除方法说明。
13欧美原装率复叠压缩冷冻机组,运转噪音低,省能源之设备。
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