高低温循环测试的持续时间如何确定
高低温循环测试的持续时间应根据产品的使用情况和使用率来确定，通常可以设定为几个小时到几个天。
在样品断电的状态下，先将温度下降到-50℃，保持4个小时；请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20℃以上温度，所以在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，先将其“冻透”，再次通电进行测试。 2、开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。 3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。 4、升温到+90℃，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后执行2、3、4测试步骤。
紫外灯产生的是400nm以下的光，能较好地加速模拟自然光中紫外线对材料的破坏作用，加速因子比氙灯要高，光源稳定性也比氙灯要好，但容易产生非自然光产出的破坏（尤其是UVB灯）
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