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天津半导体破坏物理性分析-DPA测试-线上报价服务

更新时间1:2025-02-13 15:35:59 信息编号:c73etbuhgad8a8 举报维权
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供应商 广电计量检测集团股份有限公司 店铺
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关键词 半导体破坏物理性分析,天津破坏物理性分析,芯片的破坏物理性分析,的破坏物理性分析
所在地 广东广州天河区黄埔大道西平云路163号
曾先生
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4年

产品详细介绍

广电计量集成电路失效分析实验室,配备了完善的DPA分析测试设备(如3D解析显微镜、X射线透射仪、超声扫描显微镜、场发射扫描电子显微镜、TEM透射电子显微镜、水汽分析仪、各类检漏仪等),具备非破坏性和破坏性测试的DPA分析能力。

DPA分析是对潜在缺陷确认和潜在危害性分析的过程,一般是在在元器件经过检验、筛选和质量一致性检验后对元器件内部存在的缺陷进行分析,这些缺陷可能会导致样品的失效或不稳定。与其他分析技术不同的是,DPA分析是对元器件进行的事前预计(而失效分析FA是事后检查)。在元器件生产过程中以及生产后到上机前,广电计量DPA分析技术都可以被广泛地使用,以检验元器件是否存在潜在的材料、工艺等方面的缺陷。

电子元器件制造⼯艺质量⼀致性是电子元器件满足其用途和相关规范的前提。⼤量假冒翻新元器件充斥着元器件供应市场,如何确定货架元器件真伪是困扰元器件使用方的⼀大难题。广电计量DPA测试确定元器件在设计和制造过程中存在的偏差和工艺缺陷,提出批次处理意见和改进措施等多方面的检测分析需求。

所属分类:检测服务/性能检测

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