界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
从蔡司Xradia Context microCT 到蔡司Xradia 515/520 Versa,直到蔡司Xradia 610/620 Versa,您可以在应用现场将系统转换为全新的X 射线显微镜产品。除了在您的使用现场进行仪器转换外,新的模块还在不断开发中,这些模块不断提供新的功能来让您的仪器功能更强大,如原位样品环境、特的成像模式和用于提高工作效率的模块。此外,定期发布的软件所包括的新功能也适用于已有设备,从而增强和扩展您的研究能力。
我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理,为高校、企业科研工作者提供的分析解决方案。以技能为导向,用科技来解决用户在科研中遇到的难题。的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流,打消顾虑,彼此协作,为我国的科研领域谱写新篇章。
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