环保数采仪接入数据种类
现场使用AF-HK100环保数采仪安装在进、出水口站房，采集进、出口监测仪表的数据，包括污水流量、PH、COD、氨氮，并与现场的信息被视频编码器进行叠加后，AF-HK100环保数采仪与视频编码器分别将监测数据与视频信息通过光纤发送到环保中心；AF-HK100环保数采仪与视频编码器具有立固定IP地址，有权限的人员可通过网络远程登陆AF-HK100环保数采仪与视频编码器进行各种操作，从而实现系统的无人值守与实时监测的目的。
纸护角又称边缘板，是国际行的包装产品之一，用来代替木料包装及其他重的包装方式。具有价格低、份量轻、坚固、符合环保要求等特点。又名纸包角或护 角纸板、边缘板、角纸、纸角钢，由纱管纸和牛卡纸经成套护角机定型压制而 成，两端面光滑平整、无明显的毛刺，且相互垂直，可以代替木材回收再利用，是理想的新型绿色包装材料。 纸护角主要的采购商是建筑业、制铝业、钢铁业以及其他金属业，另外还包括制砖业、糖果业、冰冻食品、日用品、家电、化工品、药品、计算机和其他高科技产 品等等，这是由于这些产品有大量表面和边角需要保护。另外纸护角还可以应用在水果的运输中，不仅起到保护作用，还可以使货物在运输中通风。
增速减缓是产业常态。纸护角厂家市场进入需求增长减缓的阶段，产品导向阶段过渡到需求导向阶段，卖方市场转化为买方市场，新的经济形态要求结合市场经济、消费意识和市场需求产生新的发展模式，也迫使企业调整生产节奏和市场经营模式。节能环保是产业常态。纸护角厂家行业今年面临严厉的“环保大考”。创新决定优劣，环保决定存亡。即是说，创新决定纸护角厂家企业发展的好坏，而环保决定纸护角厂家企业命运的死活。实际上，随着机械制造的改进、工艺技术的提升，自动化、智能化程度的增强，让这个行业可以甩掉“三高”的帽子，从传统产业向现代化产业转型。 鲁达包装生产纸护角厂家，质量，服务，全新全意为客户服务。
角条全部由牛皮纸或其它类型的纸制成，具有抗压性，抗潮性，份量轻，体积小，价格低等特点。它为托盘运输提供牢固的整体包装，能增强纸箱的叠放强度，防止打包带对产品的伤害，能对产品的边缘和角落进行有效的保护、并可加固托盘上的产品。尤其是符合环保要求，回收再循环率达，是各行各业理想的新型绿色包装材料。
XRF分析仪是检测ROHS卤素镀层厚度含量的仪器，采用新型的半导体SDD探测器，的提高计数率，缩减了测试时间。作为国内的XRF分析仪器制造厂商，天瑞仪器秉承精益求精的研发理念，利用现代半导体技术和计算机技术发展起来的新一代XRF测试仪EDX0B，能够的解决ROHS环保指令涉及的有害物质的快速测定。分析检出限可达1ppm；分析含量一般为1ppm到99.99％；任意多个可选择的分析和识别模型；相互的基体效应校正模型；多变量非线性回归程序；温度适应范围为15℃至30℃；电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源；能量分辨率：160±5eV；外观尺寸： 550×416×333mm；样品腔尺寸：460×298×98mm；重量：45Kg。仪器标准配置包括：样品平台；电制冷Si-PIN探测器；检测电子电路；高低压电源；大功率X光管；计算机及喷墨打印机。
RoHS检测分析（五金工具、塑料颗粒、涂料、塑胶模具、皮革布料、电线电缆、保温杯等）
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层（镀锡、镀锌、镀镍、镀铜、镀银、镀铑、镀钯等）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业；银
行，首饰销售和检测机构；电镀行业
技术特点：
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用平台：精细的手动平台，方便定位测试点高分辨率探测器：提高分析的准确性新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率
环保测试仪产品介绍
随着欧盟ROHS环保指令的深入影响和环保发展趋势越来越严格，X射线荧光环保测试仪在电子电器行业得到广泛使用。天瑞仪器是生产环保测试仪的厂商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探测器，提供激发效率和测试精度。
环保测试仪技术指标：
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
环保测试仪的工作原理
利用X射线荧光光谱仪，使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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