其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 ◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 ◆ 电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC ◆ 保护二极体之测试程式 ◆ 电脑自动隔离点选择功能,自动判断信号源及信号流入方向 ◆ 可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式 ◆ 完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据 ◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 ◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修 ◆ 高科技半导体CMOS Switching设计,无寿命限制,待测物安全性高 ◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 ◆ 大型主机设计,高密度SwitchingBoard,可达3584测试点 ◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能
规格 . 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字) . 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7 . 测试治具 两段式压床 . 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm 选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm . 模拟硬件 1、六线式量测 2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源 3、AC/DC电压源, DC电流源量测 4、元件R/L/C量 . 选配硬件 。模拟测试 1、TestJet技术非向量式开路检测,任意波形产生器(AWG) 。数字测试 1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计 2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、边界扫描, BGA Tree测试能力 5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E 选ICT 二手TR5001E
TR5001E特点
. 模组化升级选项,可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
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