在测试探针领域，技术仍处于日本厂商手中，日本企业分工非常细，每一家都专注在某一细分领域做到，虽然国内已经有大型材料企业、企业正在加大研发力度，力争打破探针和治具依赖进口的局面，但探针的原材料、工艺都是瓶颈，比如表面涂层材料、电镀工艺等。常用的测试探针是由针头、针管、弹簧这三个组件构成的，测试探针中的弹簧是测试探针使用寿命的关键因素，电镀处理过的弹簧使用寿命高，不会生锈，也能提高测试探针是持久性和导电性。
一些国内探针台厂商和研究机构需要做研究验证，其实更愿意采购中国大陆供应商的测试探针，因为这块处于纯粹的卖方市场，即便先付了货款，部分强势的进口探针供应商可能根本不愿意配合小客户进行研发。同时，随着国内半导体测试行业发展起来，相关治具、探针卡等环节都有很好地突破，进而带动了测试探针国产化进程，近年来外资厂商开始在国内设厂，内资厂商也因为资本的介入，能更好地加大研发力度，加速突围。
一般来说长的探针比较容易弯曲而且偏斜比较大，这样的情况往往会影响测量的准确度，所以我们需要选择一款短的探针，避免上述情况的发生，从而实现测量的高度。应用时将探针与加长杆连接在一起，而在连接点处又是容易出现弯曲和变形的，连接点就相当于选择了一款长的探针，弯曲和变形是会影响探针的度的，有时甚至会出现不能进行正确测量的情况，所以避免少的节点是有必要的。
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