FCC大电流注入探头:大电流注入法(BCI)是一种电磁兼容性(EMC)测试方法,通过电流注入探头将干扰信号直接耦合到被测试设备的线束上,以评估设备的抗干扰能力。
FCC大电流注入探头(BCI测试)在评估电子设备的抗干扰能力方面具有重要作用,特别是在汽车电子零部件的EMC测试中。
为了确保测试的准确性,FCC大电流注入探头通常需要配合校准夹具使用。校准夹具的作用包括确定注入探头的正向功率,以在被测系统中产生规定的电流,同时也可用于测量注射探头的插入损耗。
FCC大电流注入探头及其校准夹具广泛应用于电子设备的电磁兼容性(EMC)测试中,特别是在需要评估设备对电磁干扰(EMI)的耐受性时。这些测试有助于确保电子设备在复杂电磁环境中能够正常工作,不会因电磁干扰而失效。
FCC大电流注入探头的可用频率范围广泛,能够覆盖基本的电源频率以及更高的频率,满足不同应用场景下的测试需求。例如,F-120-1的频率范围包括内插损和功率等信息,显示了其在不同频率下的性能表现。
FCC大电流注入探头及其校准夹具是电子设备电磁兼容性测试中的重要工具,具有宽带、高灵敏度和大电流处理能力,能够满足各种测试需求,确保电子设备在复杂电磁环境中能够正常工作。
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