冷热冲击试验被用于研究材料的热膨胀系数、断裂强度、耐久性等性能。通过模拟材料在实际使用环境中温度的变化，可以评估材料在这种温度变化下的表现，以及其适应性和耐受性。
电子组件的测试：电子组件如芯片、电路板等在恶劣的温度条件下可能会受到影响，冷热冲击试验可以模拟温度变化，检测这些组件的可靠性和性。
光电子器件的耐久性测试：光电子器件如激光器、光电传感器等在长时间使用中可能会受到温度变化的影响。冷热冲击试验可以模拟实际使用中可能遇到的环境温度变化，以评估光电子器件的耐久性和可靠性。
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