测试资料统计的日报表和月报表
图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT，零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明瞭地显示当日各不良原因的百分比。
ICT Test 主要是*测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况,可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试(testjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。(对组件的焊接测试有较高的识别能力)
二手德律TR5001E ICT的功能能在数秒钟内检出电路板上的零件-电阻、电容、电感、电晶体、二级管、稳压二级管、光偶器、继电器等零件。能够先找出制程不良所在，如漏件、错件、开路、短路、反向等不良问题。能够将上述问题以印表机印出结果，包括故障位置、零件标准值、测试值等，以供维修人员查看。
二手TR-5001E 运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm . 模拟硬件 1、六线式量测 2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源 3、AC/DC电压源, DC电流源量测 4、元件R/L/C量 . 选配硬件 。模拟测试 1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG) 。数字测试 1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计 2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、边界扫描, BGA Tree测试能力 5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E 选ICT 二手TR5001E
产品特色 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。
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