采用合适的统计方法对测试数据进行处理和分析，以评估SIR测试的可靠性。例如，可以采用平均值、标准差等统计指标来分析测试数据。
测试标准如IPC-TM-650等，为SIR测试提供了详细的指导和规范，确保测试结果的统一性和可比性。
针对不同材料和工艺，如NiAu、HASL等，SIR测试需调整测试条件，以准确反映其绝缘性能。
随着电子产品的不断发展，对SIR测试的要求也越来越高，需要不断更新测试方法和设备，以满足新的测试需求。
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