膜厚仪X射线荧光镀层测厚仪
更新时间:2024-10-30 09:17:03
[举报]
参数名1
参数值1
参数名2
参数值2
参数名3
参数值3
参数名4
参数值4
参数名5
参数值5
参数名6
参数值6
元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米
X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料,通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测,可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求,提高产品的质量和生产效率。
设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,减少摆放样品时间。全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。
公司被授予 “国家火炬计划高新技术企业”,“江苏省高新技术企业”,“江苏省软件企业”,“江苏省科技创新示范企业”,“江苏省规划布局内软件企业”,“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种,为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。
标签:测厚仪膜厚仪
江苏天瑞仪器股份有限公司
-
孙经理
-
江苏苏州中华园西路1888号
-
400-7102-888
-
13814856624
-
信息由发布人自行提供,其真实性、合法性由发布人负责。交易汇款需谨慎,请注意调查核实。