我们的综合解决方案采用了专属的吸收衬度增强探测器，尽可能地吸收低能量光子，同时尽可能地少吸收降低图像衬度的高能量光子，从而为您提供拥有出色衬度的成像结果。此外，可调节的传播相位衬度技术通过探测经过材料后产生折射的X 射线光子信号，可显示出那些吸收衬度很低甚至没有吸收衬度的特征。
蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件无缝整合在一起，提供一个的工作流程境，让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说，这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。
重建工具箱是一个创新的平台，您可以在此平台上连续使用蔡司重建技术，用来丰富您的研究，并提高蔡司Xradia 三维XRM 的。
蔡司OptiRecon
以快速、的算法为基础，在您的电脑桌面上操作即可进行迭代重建，使您的扫描时间提升至高达4 倍的速度，或在同样的通量下改善图像质量。OptiRecon 是一个经济的解决方案，可以为广泛的样品类别提供出色的内部断层扫描成像质量或快速的成像速度。
蔡司PhaseEvolve
蔡司PhaseEvolve 是一种后处理算法，主要针对X 射线显微镜在材料成像中为了提高对比度一贯采用的图像对比度增强所产生的效果。在中、低密度样品或高分辨率成像中这种会引起的相位效应。该功能可实现更的定量分析和对结果进行图像分割。
您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件，包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施（馈入装置），以及基于测试规程的软件，它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan）用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制，得益于其光学架构设计，在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。
