产品特色
电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题。
二手TR-5001E 值得选择；ICT58
TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易
◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC
◆ 保护二极体之测试程式
◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向
◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据
◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能
◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高
◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点
◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能
◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好
◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题
◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题
◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%
◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测
◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感
◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题
◆ 具Pin Contact检查功能
规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm
. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量
. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E
