PCT试验箱使用说明
1.使用PCT老化试验箱前请详读操作保养手册。
2.建议使用蒸馏水或R.O.水以保护锅体使用安全。
3.使用PCT前请确认关闭手动排气阀门。
4.工作完成后如压力指示器未回到0kg/cm²。开门前请打开手动排气阀排除内锅剩余压力，直到内锅压力回到0kg/cm²。
5.工作完成后将测试物品留置在锅内时间过长，将可能发生锅门无法开启的现象，那是因为冷热空气收缩造成的压差所导致，处理方式很简单，只要打开手动排气阀排除内锅气体，锅门就可打开。
广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
老化试验箱是环试行业中的一种产品总称，老化试验箱包含：臭氧老化、紫外老化、氙灯老化、换气式热老化、高温老化、盐雾腐蚀老化…等众多老化试验方式。是人工环境气候试验方法中较重要的一种。
老化试验箱有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉，可避免不必要的能量损失。箱体左侧配一直50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。换气的时间和次数可任意设置。
试验架二层，可以自由调节高度
循环腐蚀试验以一种重复的循环周期将样板暴露在一系列不同的环境条件之中，Q-FOG腐蚀试验箱循环式腐蚀试验比传统的盐雾试验对材料的侵蚀作用更为接近自然
