南京SEM+EDS分析综合性第三方检测检测机构

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材料表面形貌观察。SEM可以提供高分辨率的材料表面形貌图像，从而帮助分析材料的表面结构、形貌特征和缺陷等。

SEM+EDS分析的主要工作原理是：当X射线光子进入检测器后，在Si晶体内激发出一定数目的电子空穴对。入射X射线光子的能量越高，产生的电子空穴对就越多。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉冲，电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器，脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数，这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。

无损检测：SEM+EDS是一种无损检测技术，对样品造成损伤或改变其原始性质，适合对珍贵或不可破坏的样品进行分析。

总之，SEM+EDS分析在科学研究、工业生产和质量控制等领域都有广泛的应用，是一种重要的材料分析技术。
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