产品特色
电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题。
二手TR-5001E 值得选择；ICT58
二手TR-5001E 运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
产品详情：
二手TR5001E ICT在线测试仪（二手德律TR-518FE）
产品说明
ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
产品特色
电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题
在线测试仪规格参数表
项 目
详 细 参 数
测试点数
标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
电感:1.0UH至60H
隔离点电路
隔离点自动选择,每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.
主控制电脑
Pentium等级以上PC
监视器
15〃夜晶显示器
记忆设备
3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
列印机
标准配备:微型印表机
*其它选购配备
Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）
Trace Level 图形显示检修软体。
网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,
Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator
光电保护及多连板自动盖章功能
实装板程式烧录功能
*选项测试功能
HP TestJet功能：
可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD
扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin
Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz
Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz
Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V
Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
电源
AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W
尺寸重量
OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg
IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg
TR5001E测试仪
二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。
二手ICT TR5001E特点
. 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。
三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。
电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。
软体系统
JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。
差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。
