PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
PCT老化箱内胆采用圆弧设计,复合容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制产品架。
安全保护装置
A、误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.
B、超压安全保护：当锅内压力超过大工作值自动排气泄压.
C、超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
D、防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
E、手动安全保护排压伐.
PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
试验箱采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。可模拟自然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、黑暗等环境条件，通过重现这些条件，合并成一个循环，并让它自动执行完成循环次数。ZN-P
可用于橡胶类制品如硫化橡胶，热塑性橡胶，电缆绝缘护套等产品，在静态拉伸变形下，暴露于密闭无光照的含有恒定臭氧浓度的空气和恒温的试验箱中，按预定时间对试样进行检测，从试样表面发生的龟裂或其它性能的变化程度，以评定橡胶的耐臭氧老化性能。
老化试验箱采用国外的加热气流方法，解决了原转盘式的温度不均匀先天缺陷，同时大大提高了试样放置的安全性，有效空间利用率是原转盘式的200%以上，适用于电子元件，橡胶零部件等材料在高温下的老化适应性试验。新型老化试验箱采用LTDE可编程控制系统，在额定温度范围内可按工作需要进行程序升温-恒温-待机，操作人员设置好程序后，仪器即按程序工作，完毕后自动关机（待机）。
使用注意事项
1、电源设备：应在供电线路中装有超负荷的保险丝装置，供此箱特种，并具有良好接地装置。
2、试料准备：将试品逐一编号后，将试品放置于试品转盘上，彼此以不相互接触和碰撞为宜。
3、待一切准备就绪，即关上箱门。
关闭控制系统各个开关，将电源插扑插上打开电源开关转盘即自动转动，同时控制系统的电源指示灯即亮，若须升温打开开关(即高温开关和低温开关)，然后调节全自动控制系统
5、仪器外壳有效接地，以使用安全。
6、仪器应放在通风良好的室内水平位置，在其周围不可放置易燃易爆物品。
7、应在供电线路中安装铁壳的闸刀开关一只，供此箱特种，在外壳接地通电前请检查本箱的电器性能，并应注意是否有断路或漏电现象,本仪器无防爆装置，不得放入易燃易爆物品干燥。
8、箱内物品放置切勿过挤，留出空间，以利热空气循环。
9、非工作人员请匆操作。
