浦东回收NORFLASH芯片收购联发科芯片
更新时间:2025-03-01 06:14:15
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浦东回收NORFLASH芯片 收购联发科芯片
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CANFD的数据段更可靠的CRC校验和额外的控制位在传统的CAN2.0中,由于填充规则会对CRC产生干扰,在CANFD中升级了算法,将填充位加入多项式的运算,主要作为格式检查,考虑数据长度变化的区间很大,CRC也根据区间会生成两种校验算法,当帧长小于210位,使用CRC_17,当帧长小于1023位,使用CRC_21位算法。可靠的CRC校验另外在CANFD中利用了部分保留标志位,新增三种控制位,包括EDL(是否是CANFD帧)、BRS(是否可变速率)以及ESI(错误状态),丰富帧内的有用信息。
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王生
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