产品特色
电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题。
二手TR-5001E 值得选择；ICT58
二手德律ICT在线测试仪ICT58 销售的所有设备 为二手设备 非原厂厂家 二手仪器销售 二手仪器买卖
二手ICT,ICT在线测试仪，线路板检测仪，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT
TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT,
产品详情：
二手TR5001E ICT在线测试仪（二手德律TR-518FE）
产品说明
ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
产品特色
电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题
5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术，使TR518FR之测点可高达2560测试点，其速度亦较传统的ICT快80%以上。
5001E在线测试仪规格参数
测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V
电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V
规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm
. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量
. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E
测试资料统计的日报表和月报表
图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT，零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明瞭地显示当日各不良原因的百分比。
网路即时监控系统
如果把多台ICT连到内部网路系统，则每一台ICT的测试统计资料都可以在网路上的任何一台电脑上显示，管理者可以很方便地随时查看生产线的状况。
网路错误讯息查询系统
只要把ICT 和检修站都连到内部网路系统, 则在检修站就可以检视到不良板的所有错误讯息，包括：打印机的印出讯息和错误图形显示。
待测板图形显示功能
可在待测板不良发生时，明白显示不良零件或焊点的位置，亦可在零件位置查询时显示零件的位置，此功能可大大缩短不良品检修的时间和程式调适的时间。如果厂内有网路连线系统，则此图形亦可在维修站的萤幕上显示出来.
