检测对象：固体、液体、粉末
探测器：SDD探测器及Fast-SDD探测器（可选）
探测器分辨率：低到128eV
激发源：50KV/200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
准直器和滤光片：直径4.0mm和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换
视频系统：500万像素的高清晰摄像头
显示屏：全新5寸液晶显示触摸屏，其分辨率是1080*720
RoHS行业应用
电子电器制造
废旧电子电器回收
机械制造与加工
玩具生产
包装材料生产
出入境检验检疫
电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》（以下简称《检测方法》，标准号为 SJ/T 11365-2006）对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法（XRF）作为一种快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。使用X射线荧光光谱法（XRF）可对铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量，也就是说如果这种筛选测试得到铬（Cr）或溴（Br）的含量，即使他们超标也并不能代表有害物质（Cr VI）与阻燃剂PBB和PBDE）超标，这个测试结果（指含有）只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。
