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梅州承接二手德律TR-5001E货源,TR-5001E

更新时间:2024-03-30 03:40:15 [举报]

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产品详情:
二手TR5001E ICT在线测试仪(二手德律TR-518FE)


产品说明
ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后,运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
产品特色
电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式 
可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修
大型主机设计,高密度SwitchingBoard,高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题

TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后,运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。

◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易

◆ 电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC

◆ 保护二极体之测试程式

◆ 电脑自动隔离点选择功能,自动判断信号源及信号流入方向

◆ 可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式

◆ 完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据

◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能

◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修

◆ 高科技半导体CMOS Switching设计,无寿命限制,待测物安全性高

◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主机设计,高密度SwitchingBoard,可达3584测试点

◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

◆ 多重安全性设计,确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术,检测SMT元件开路空焊问题,效果好

◆ 应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题

◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题

◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%

◆ 选项功能强大,可针对同之测试需求,加装如频率量测、 电压量测、电流量测

◆ 具备1MHZ信号源,可量测小电容小电感

◆ 具三点量测模式,可量测电晶体FET、SCR等元件,并可对Photo-Coupler提供四点量测,确实检测上述元件 之反插问题

◆ 具Pin Contact检查功能

二手德律ICT 二手TR-5001E元件测试仪
强大的软件作业环境:
使用Windows7作业系统
电脑自动学习并自动产生测试程式
电脑自动隔离点选择功能
可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据
系统具自我诊断功能及远端遥控功能
BoardView 功能
完善的硬体架构设计
使用USB介面
的Reed Relay Switching 设计
可程式化开/短路Threshold设定, 适用各类产品量测
适用于不同操作介面
高密度 Switching Board
多重安全性设计
100伏高压定电流源
的测试技术整合.

规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm

. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量

. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测,任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E

宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法,分别量出其零件值,由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz),因此可以侦测的范围优于一般的ICT,像下图线路中的零件都可以准确量测。

三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,FET,SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER,做正确的测试,如有反插或零件损坏,必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插,可测率****;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率。

软体系统 
JET-300拥有一般ICT的软体功能,无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析,都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式,操作容易,功能强大。

差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。

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