常见的有色金属矿石检测设备包括：
1. X射线荧光光谱仪：通过测量矿石中元素发射的特定X射线能谱，确定矿石中金属元素的含量和比例。
2. 感应耦合等离子体质谱仪：利用等离子体产生的高温和离子化的条件，对矿石样品进行离子化和分析，以测量金属元素的含量和比例。
3. 电感耦合等离子体发射光谱仪。
·使用了的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易进行校正。因此，Innov-X a-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。
·可以在显示荧幕上观看光谱。
·通过对比光谱进行对比分析，显示出分析结果，分析结果将反映是否符合相应标准的情况。
·通过更新参数或更换模式，可以利用存储的试验结果再次进行新的试验。
·资料安全性：资料以二进位格式存储于设备中，以资料的完整性。
检测范围
品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9%
钛 0.1-45% 铝 0.01-5%
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