PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
老化试验箱有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉，可避免不必要的能量损失。箱体左侧配一直50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。换气的时间和次数可任意设置。
试验架二层，可以自由调节高度
自我诊断功能，便于维护
内置自诊断装置可提示操作人员何时应进行例行维护，或对故障进行检查。带有一个个性化的面板控制器，它可使操作人员简单地对复杂的测试程序进行编程。
易于编制循环程序或直接运行Q-FOG自带的测试程序。可以完成许多循环腐蚀试验，如Prohesion试验、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等试验。内置以下全部或部分循环程序：
1、 循环A， ASTM B117（NSS）
2、 循环B， Prohesion
3、 循环C，CCT-1
4、 循环D，CCT-IV
5、 循环E，GM9540P/B
6、 循环F，ASTM B368（CASS）
