仪器技术指标：
1、分析元素范围 ： 从硫（S）到铀（U）
2、测试对象：固体、粉末、液体
3、元素含量分析范围：1ppm—99.99%
4、同时分析元素：几十种元素同时分析
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、相互立的基体效应校正模型
7、多变量非线性回归程序
8、多次测量重复性可达：0.05％ (含量大于96%的样品)
仪器配置：
1、探测模块：Si-PIN
2、X射线源：40kV、100uA
3、准直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自动切换
4、滤光片：内置Al Ti Cu
5、样品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，软件安装在Microsoft Windows CE系统操作灵活简单，很好的支持PDA系统升级和软件升级
7、指示和警告：电源指示灯，辐射警告灯
8、保护系统：上盖打开时，高压自动关闭
9、样品放置：配万向测试支架，随心放置各种样品
超薄窗X光管，指标达到国际水平
数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置了仪器工作的一致性
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
标准配置
移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示
