半导体测试探针的主要应用领域包括芯片设计验证、晶圆测试和半导体成品测试。它起着连接芯片/晶圆与测试设备，并进行信号传输的核心作用，对于半导体产品的质量控制具有重要意义。
探针是半导体试验所需的重要耗材。通过与试验机、分拣机、探针台配合使用，可以筛选出产品设计缺陷和制造缺陷，用于设计验证、晶圆试验和成品试验。它在确保产品产量、控制成本、指导芯片设计和工艺改进方面发挥着重要作用。
探针的选用
（1）材料：选择材质通常为316不锈钢、金属玻璃、石英玻璃、硅、玻璃钢等。不同材料的探针具有不同的化学惰性和机械性能，对探测的液体和气体有不同的适应性。
（2）形状：选择探针的形状应该根据实验需求进行选择，通常探针的形状为直棒状、U形、Z形等。考虑到实验的灵敏度问题，在选用探针时与被测物相匹配。
（3）长度：探针的长度是下降液面幅度的关键因素。为获得准确的下降水平，要根据实际测量需求选择合适的长度。
（4）直径：探针的粗细通常采用0.5mm至5mm之间。过粗的探针会影响测量的灵敏度，过细的探针则可能会导致探针的折断。
（5）表面处理：在实验中，探针处于探测的介质中，探针的表面形态和性质会直接影响到测量结果。因此，探针的表面要求经过光洁处理和表面处理。
