纳米级扫描电子显微镜（SEM）探索微观世界：扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描，激发二次电子等信号来成像，其分辨率可达到纳米级，甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域，SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具，为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。
形位公差通常通过特定的符号和数值来表示，这些符号和数值被标注在零件图纸上，以指导生产和检验。例如：
直线度：用符号“┬”表示，并在其后面标注公差值，如“┬0.01”表示直线度公差为0.01mm。
同轴度：用符号“◎”表示，并在其后面标注公差值，如“◎0.05”表示同轴度公差为0.05mm。
位置度：用符号“⊕”表示，并配以相应的基准和公差框格，如“⊕Φ0.1 A-B-C”表示某要素的位置度公差为Φ0.1mm，且以A、B、C三个基准面为基准。
直尺测量：使用直尺或卷尺等工具直接对准待测尺寸的两个端点，读取刻度值以获取尺寸大小。这种方法简单直接，适用于简单的线性尺寸测量。
游标卡尺测量：游标卡尺是一种精密测量工具，用于测量长度、宽度和深度等尺寸。其测量精度一般可达到0.01毫米，适用于各种形状的尺寸测量，尤其适用于小尺寸的测量。
千分尺测量：千分尺的测量精度更高，一般可达到0.001毫米，适用于各种形状和大小的精密尺寸测量，尤其适用于微小尺寸的测量。
