探针一般由精密仪器铆接预压后形成，针头、针尾、弹簧、外管四个基本部件。
由于半导体产品体积小，特别是芯片产品尺寸非常小，探针尺寸要求达到微米级。它是一种精密电子元器件，具有较高的制造技术含量。
在晶圆或芯片测试的过程中，通常会使用探针来准确连接晶圆或芯片的引脚或锡球与测试机，以便检测产品的导通性、电流性、功能性和老化性等性能指标。
探针是半导体试验所需的重要耗材。通过与试验机、分拣机、探针台配合使用，可以筛选出产品设计缺陷和制造缺陷，用于设计验证、晶圆试验和成品试验。它在确保产品产量、控制成本、指导芯片设计和工艺改进方面发挥着重要作用。
探针的要求
（1）质量问题：在使用过程中应定期进行质量检查。探针的质量差会导致测量误差增大，严重时可能会损坏实验设备。
（2）加工工艺问题：在探针的制作过程中，要探针的形状、尺寸的与稳定。
（3）使用注意事项：避免在测量过程中引入空气，勿使用有陷进、连续的探针以免扰动测量，对于使用多个探针进行测量的情况要确保探针之间的长度和间距足够。
（4）存储和保养问题：尽可能地存储环境无除尘、避光性好；探针表面不能有刮伤等损坏，使用前应清洗干净且消毒处理。
在收集到的镀金探针废料中，可能包含其他金属和非金属杂质。因此，分拣是必要的步骤，以便将废料分类和分离。分拣可以通过人工或自动化设备进行。人工分拣需要经过培训的工作人员，他们根据废料的类型和特征进行分类。自动化设备可以通过传感器和图像识别技术自动分拣废料。
物理处理主要包括粉碎和筛分。，废料被送入粉碎机进行粉碎，使其变为较小的颗粒。然后，颗粒通过筛网进行分级，分离出不同粒度的废料。
化学处理是提取金属价值的关键步骤。一种常用的方法是浸出法。废料颗粒被置于酸性溶液中，稀释酸可以溶解镀金探针中的金属。然后，通过化学反应和沉淀，将金属分离出来。
