PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
通过考核对材料及其防护层的盐雾腐蚀的能力，以及相似防护层的工艺质量比较，同时可考核某些产品抗盐雾腐蚀的能力；该产品造用于零部件、电子元件、金属材料的防护层以及工业产品的盐雾腐蚀试验,根据试验需求可以分为：中性盐雾试验、酸性盐雾试验、铜加速醋酸盐雾试验。
老化试验箱采用国外的加热气流方法，解决了原转盘式的温度不均匀先天缺陷，同时大大提高了试样放置的安全性，有效空间利用率是原转盘式的200%以上，适用于电子元件，橡胶零部件等材料在高温下的老化适应性试验。新型老化试验箱采用LTDE可编程控制系统，在额定温度范围内可按工作需要进行程序升温-恒温-待机，操作人员设置好程序后，仪器即按程序工作，完毕后自动关机（待机）。
