随着现代制造技术的发展,超大规模集成电路的使用,编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间,如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用,使器件引脚开路的故障现象变得更加。为此各公司非向量测试技术,Teradyne推出MultiScan;GenRad推出的Xpress非向量测试技术。
TR5001E测试仪特点
• 模组化升级选项,可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
• 高测试覆盖率之解决方案
ICT测试仪规格
测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
测试治具 两段式压床