大量的研究表明低频噪声是导致器件失效的各种潜在缺陷的敏感反映，此外噪声检测方法还具有灵敏、普适、快速和非破坏性等优点。电噪声根据其形成机构可分为白噪声和过剩噪声。其中，白噪声与频率无关，主要由材料或器件的本征性质决定；过剩噪声则在低频下显著，主要由材料或器件的不完整性决定，大量研究已经证明，绝大多数不完整性(尤其是潜在缺陷) 的存在都会引入过剩噪声，而且噪声大的器件，可靠性必然差。另外，低频噪声与传统的电学参数相比较，可以更加灵敏地反映器件的潜在损伤，这些都使得低频噪声能广泛的应用于半导体器件的可靠性研究。低频噪声除了可以用在电子器件可靠性的检测外，在一些光电器件如量子阱激光器、发光二极管、光电耦合器方面也有成功的应用。
国内对GaN材料的研究开展得较晚，跟国际上的高水平相比有着较大的差距,但近年来也取得了显著的进展，目前蓝光发光二极管已有实验室样品，并且正在走向产业化。绿光、紫光二极管也已制出样管。白光二极管的制造技术也将一步步走向成熟。
高可靠性：功率器件的寿命与其温度密切相关，结温越高，寿命越低。 GaN材料具有高温结和高导热率的特点，大大提高了器件在不同温度下的适应性和可靠性。
