半导体测试探针的主要应用领域包括芯片设计验证、晶圆测试和半导体成品测试。它起着连接芯片/晶圆与测试设备，并进行信号传输的核心作用，对于半导体产品的质量控制具有重要意义。
探针一般由精密仪器铆接预压后形成，针头、针尾、弹簧、外管四个基本部件。
由于半导体产品体积小，特别是芯片产品尺寸非常小，探针尺寸要求达到微米级。它是一种精密电子元器件，具有较高的制造技术含量。
在晶圆或芯片测试的过程中，通常会使用探针来准确连接晶圆或芯片的引脚或锡球与测试机，以便检测产品的导通性、电流性、功能性和老化性等性能指标。
探针结构设计(如针形)作为半导体试验设备的关键部件、针头材料(如钨、鹬铜)、弹性大小等都会影响探针的稳定性、细微性、信号传导精度等，从而影响探针的测试精度。
探针，作为一种精密的检测工具，在科学研究、工业制造、医学诊断等领域中扮演着至关重要的角色。它是一种能够与被测物体表面接触或非接触交互，从而获取物理、化学、生物等多方面信息的产品。其中，五孔探针的设计与应用广泛多样，从简单的机械触点到复杂的电子传感器，都在各领域发挥重要作用。
在众多探针技术中，五孔探针是一种应用于流体动力学领域，特别是对于复杂流场特性测量的工具。它的设计基于伯努利原理和流体连续性方程，主要用于测量气流的速度、压力分布以及流场的湍流特性。五孔探针因其结构包含五个开孔而得名，这五个孔一般按照特定的几何布局排列。
在收集到的镀金探针废料中，可能包含其他金属和非金属杂质。因此，分拣是必要的步骤，以便将废料分类和分离。分拣可以通过人工或自动化设备进行。人工分拣需要经过培训的工作人员，他们根据废料的类型和特征进行分类。自动化设备可以通过传感器和图像识别技术自动分拣废料。
