半导体测试探针的主要应用领域包括芯片设计验证、晶圆测试和半导体成品测试。它起着连接芯片/晶圆与测试设备，并进行信号传输的核心作用，对于半导体产品的质量控制具有重要意义。
垂直探针可以对应高密度信号触点的待测半导体产品的细间距排列，针尖接触待测半导体产品所需的纵向位移可以通过针体本身的弹性变形来提供。悬臂探针为探针部提供适当的纵向位移，用于通过横向悬臂接触待测半导体产品，以避免探针部对待测半导体产品施加过大的针压。
由于半导体产品的生产过程十分复杂，任何一个环节出现错误都可能导致大量产品质量不合格，甚至对终的应用产品的性能产生重大影响。因此，测试在半导体产品的生产过程中具有非常重要的地位，贯穿于半导体产品的设计、制造、包装和应用的整个过程中。
镀金探针废料的收集是回收过程的首要步骤。废料可以从电子制造厂、研究机构和废旧电子产品处理中心等渠道获取。收集过程需要与这些机构建立合作关系，确保废料的稳定供应。
物理处理主要包括粉碎和筛分。，废料被送入粉碎机进行粉碎，使其变为较小的颗粒。然后，颗粒通过筛网进行分级，分离出不同粒度的废料。
通过合理的回收流程，镀金探针废料中的金属可以得到提取和再利用，减少资源浪费，降低环境污染。这对于实现可持续发展具有重要意义。因此，应该加强对镀金探针废料回收的研究和推广，提高回收率，并推动相关政策的制定和实施。
