“科学仪器行业企业”奖是仪器信息网创办的科学仪器行业年度评选奖项，是业内具有性的奖项之一。该奖项旨在表彰行业内具有影响力、公信力的企业，这些企业在公司发展、用户关注度、品牌度等方面表现。天瑞已连续数年夺得该奖项，此次，天瑞仪器不负所望再次获此殊荣。该奖项的获得，是对天瑞仪器的肯定，也是对天瑞仪器继续前行继续奋斗的激励。
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
