广州电缆线回收多少钱一米

如今随着时代科技的不断变化和发展，对废旧电线电缆的回收也是多样化的，我们想要知道电线电缆回收多少钱一斤，我们要对其进行剥皮。一般来说市面上的包皮方法也是多样化的，我们一般采用手工剥皮法、焚烧法、机械剥皮法、化学法、和冷冻法等五种方法进行剥皮。

手工剥皮是采用人工进行剥皮，人工的成本就会很高，效率还会很低，那么回收价格自然就会高一点；焚烧方法是一种传统的方法，但是由于时代的发展产生的烟气严重影响环境。已经被各国严格禁止了。机械剥皮法是属于半机械化的方法，劳动强度很大，效率也比较低，所以我们所在市面上看到的电线电缆回收的价格就不稳定。

的电线电缆让光纤终端盒等通信设备质量增强，同样也给使用者带来了一定的安全性。我们如何可以选择到的电线电缆呢?主要看一下几个方面：

　　PVC护套：表面能看出压紧里面编网有规律的"不平度"，说明加工工艺好，不会产生相对滑动，是好电缆;外观光滑，看不出压紧编网的"不平度"，用手捏护套有松动感，是差电缆。

的电线电缆让光纤终端盒等通信设备质量增强，同样也给使用者带来了一定的安全性。我们如何可以选择到的电线电缆呢?主要看一下几个方面：
　　检查屏蔽层编网：编数是否够，铜材编网，检查可焊性，镀锡铜线刮看里面是不是铜线，铝镁合金线的硬度明显大于铜线;编网稀疏，分布不均匀，与绝缘层包裹不紧等是差电缆。
　　检查芯线：直径———SYV电缆为0.78至0.8mm,SYWV电缆为1.0mm;近来出现了一种SYV75-5芯线直径是1.0mm的电缆，这种电缆的特性阻抗，肯定不是75欧姆，不应用到75欧姆传输系统中。

我们在回收或选购电缆的时候从哪些方面可以判断出电缆线的好与坏呢，我们大家可能都会说是价格，那么电缆电线的价格就是判断电缆线好坏的标准吗？小编给出的答案一定是不，那么电缆线的好与坏是从哪些方面来判断的呢，小编为您一一解答。
　 1.要试用：我们可以选取一根电缆线出来，反复弯曲，凡是手感柔软的，抗疲劳强度好的，弯曲无折痕的，那么多半可以判断他是优等品。
　 2.比价格：我们熟知的市面上的伪冒假劣产品很多，他们的制作成本又低，因此常常打着物美的幌子在市面上销售，很容易让人上当。说以如果您一味的追求，可能就会上了不法商家的当，选购的都是低档品。所以有时可能因为您的购买造成的事故损失远远是不可估量的。
3.看铜制品：我们大家所熟悉的电缆里面含铜量很高，合格的铜制电缆线应该是紫红色的，看起来有光泽、手感软。而伪劣产品铜质量为紫黑色、杂质多，性能差，韧性差。也可以在你检查的时候在白纸上搓一下，如果白纸上有黑色物质，那么多半就是仄纸较多，不是优等品。
　 4.称重量：我们也可以对选购的电缆线进行称重量，质量好的电缆线，一般都在规定重量范围内，每100m重量为1.8~1.9kg；每100m重量为3~3.1kg等多种规格。质量差的要不就是长度不够，要不就是重量不够，我们可以通过这个方法来判断是否为优等品。

随着经济体制向市场经济体制的转变，电线电缆行业成为了国民经济的基础性产业，广泛的应用到了各个部门。相对来说我国回收网点也在慢慢增多，主要是个人和小企业的迅速崛起方面的回收，以及再生资源利用体系的形成，都为废旧电线电缆回收行业开拓了市场。

起初，废旧电缆线回收开始的方法是焚烧，焚烧后的线去除表层皮肤，这种低纯度的金属回收方法，通过焚烧产生大量黑烟，非常严重的污染了市场，现如今这种方法已经被禁止。后来又到了铜绞线护手电线电缆的设备，回收再利用，利用率非高，且丰产性好，快，电缆回收是正确处理废旧电线电缆的好渠道。

1、导体屏蔽缺陷的种类及原因
交联电缆在生产过程中出现的导体屏蔽缺陷主要有以下几种：
1.1凹陷：
导体屏蔽出现凹陷主要是由于导体外层单线间的间隙过大造成的。由于交联电缆的导体为紧压绞合导体，导体屏蔽的挤出采用挤压式模具，进入交联管路中又处于高温高压的环境中，如果导体结构不合理或紧压度不够，就不可避免地出现导体屏蔽凹陷。紧压导体在放线过程中出现外层松股，导体在融焊接头处理不当时也会出现外层松股，这也是导致导体屏蔽凹陷的原因。
1.2凸起：
为电缆内部电场均匀，要求导体屏蔽表面光滑。如果屏蔽料在挤出过程中温控失常，导致屏蔽料出现预交联，在挤出层表面形成凸起的颗粒。这些凸起的颗粒在电缆长期执行过程中容易引发放电﹐进而在绝缘形成电树"，终导致电缆击穿。
2、导体屏蔽缺陷的检查
高压交联电缆绝缘层较厚，同时又有绝缘屏蔽，因此对于导体屏蔽表面善的检查比较困难。采用以下方法可以对导体屏蔽进行检查。方法：取绝缘线芯样品长 1m，一端保留20cm长的绝缘屏蔽，绝缘屏蔽剥去，尽量不要损伤绝缘，然后将其放到硅油箱中加热，硅油温度120摄氏度，放置3h后绝缘层变透明，再用强光源对导体屏蔽的表面状况进行检查。对于绝缘屏蔽不可剥离或压电缆，可用车床将绝缘屏蔽或部分绝缘车去，再按上述方法检查。采用该方法能够直观地检查导体屏蔽的表面状况，但对缺陷的几何尺寸不能测量。