南昌回收光电耦合器 收购平板电脑电池
银川收购单片机IC,清远求购金士顿CF卡,泰州收购芯片,福永回收LPDDR3芯片,三角求购集成电路,花桥收购贴片光耦,台州收购U盘,东莞求购钽电容,黄圃回收无线模块,威海求购博通芯片,东莞求购汽车硬盘,观澜回收显存芯片,公明收购液晶IC,万江收购铂金系列CPU,常平收购BGA芯片,万江求购DDR2芯片,小榄回收贴片晶振,浦东求购南亚内存,石排收购电源IC,塘厦求购内存颗粒,三水回收海力士显存,东升回收太诱电容,三乡回收电源芯片,天津收购手机电池,企石回收三星显存,顺德回收镁光NOR闪存,南山求购排针,三水收购英特尔十一代CPU,谢岗收购钽电容,厦门求购液晶芯片,厦门收购汽车字库,松岗收购记录仪芯片,平湖求购白银系列CPU,香港回收电表IC,麻涌求购电源芯片,小金口收购SSD,石排求购电感,沈阳回收BGA芯片,苏州收购电机驱动IC,大连求购汽车继电器,吴中回收白银系列CPU,西乡收购触摸IC,港口收购TF卡,绍兴回收青铜系列CPU,珠海回收电机IC,马鞍山求购加速计,沙井求购传感器IC,天津回收触摸IC,三乡收购玩具IC,青浦求购逻辑IC
GD25LQ05CQEG,BD5241FVE,SGM2200-3.3YN3LG/TR,ERJP14D6200U,HF3F-L/3-1ZL2T,ADA4528-1ACPZ-RL,C2012X7R2A472M085AA,ISL80505,TPS65283RGET,DS1731,ERG3DGW204E,V62/10613-02XE,SN65HVD1782DRG4,SCS212AJ,SN74HCT04ANSRE4,MX25L1606EM1I-12G,NW550,TC74AC00F,OPA548T-1G3,ERJU0XJ120Y,ERJ1TYJ161U,ERJ8ENF6190V,FQD4N20TM,R5F563NACDFP,ERJP08F97R6V,KDZVTF11B,ERJ3EKF84R5V,C3216X5R2A474M160AA,GQM2195C2E240FB12#,LM4040QDEM3-2.5/NOPB,GRM188R71C683MA01#,TRMD476M020R0055,ERJ2RKD26R1X,80-M3166BA125AS02-K849G32,ERJS1TD82R5U,BCP52-16T,FX651,LM3488MM/NOPB,5KP58CA-HF,80-M3122PA400SC-K830F40,GD25Q127CVFS,TAJB226K006TNJ,BLM03HD152FN1#,DSC6101HI3B-100.0000,MT46H128M16LFDD-5WT:C,ERJS12D3653U,ERJS1DF2320U,MCP4341-502E/ML,TCAN332GDCNT,RM30DZ-2H
使用组合透镜系统对物体成像,实现加电时液晶透镜区域清晰,具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向:液晶透镜成像系统测试目的:展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果,测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF,分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程:1.实验室制备液晶透镜,并通过干涉法获取波前信息,分析得到zernike系数,得到液晶透镜的性能参数,以选择合适的驱动电压;组装成像系统,对不同区域的物体进行成像实验;使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试,测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。